Рентгенографическая структурная диагностика наноматериалов Review
Journal |
Успехи химии
ISSN: 0042-1308 , E-ISSN: 1817-5651 |
||
---|---|---|---|
Output data | Year: 2011, Volume: 80, Number: 4, Pages: 315-334 Pages count : 20 | ||
Tags | РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ, СТРУКТУРА, ДИАГНОСТИКА, НАНОМАТЕРИАЛ, РАДИАЛЬНОЕ, РАСПРЕДЕЛЕНИЕ, ЭЛЕКТРОН | ||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Funding (1)
1 | Russian Foundation for Basic Research | 09-03-90424 |
Abstract:
Представлены данные по развитию и использованию рентгенографического метода радиального распределения электронной плотности, основанного на интегральном анализе рассеяния рентгеновских лучей, при исследовании наноматериалов, в частности оксидных носителей для катализаторов. Метод дает информацию о межатомных расстояниях и координационных числах в структуре, а также позволяет обнаружить и оценить размеры нанообразований (фаз) размером <3 нм, которые не выявляются при обычном рентгенофазовом анализе. Рассматриваемый метод чувствителен к изменениям локальной структуры в области протяженностью 1–3 элементарные ячейки, поэтому его успешно используют для выявления различных дефектов в нанообъектах любого состава.
Библиография — 124 ссылки.
Cite:
Мороз Э.М.
Рентгенографическая структурная диагностика наноматериалов
Успехи химии. 2011. Т.80. №4. С.315-334. РИНЦ
Рентгенографическая структурная диагностика наноматериалов
Успехи химии. 2011. Т.80. №4. С.315-334. РИНЦ
Translated:
Moroz E.M.
X-Ray Diffraction Structure Diagnostics of Nanomaterials
Russian Chemical Reviews. 2011. V.80. N4. P.293-312. DOI: 10.1070/RC2011v080n04ABEH004163 WOS Scopus РИНЦ
X-Ray Diffraction Structure Diagnostics of Nanomaterials
Russian Chemical Reviews. 2011. V.80. N4. P.293-312. DOI: 10.1070/RC2011v080n04ABEH004163 WOS Scopus РИНЦ
Dates:
Submitted: | Jun 1, 2010 |
Identifiers:
Elibrary | 15631423 |
Citing:
DB | Citing |
---|---|
Elibrary | 32 |