Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов Full article
Journal |
Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463 |
||
---|---|---|---|
Output data | Year: 2010, Volume: 51, Number: 7, Pages: S58-S63 Pages count : 6 | ||
Tags | высокодисперсные материалы, поверхность, вторичная ионная масс-спектрометрия, катализаторы | ||
Authors |
|
||
Affiliations |
|
Abstract:
В работе описаны фундаментальные и методологические аспекты применения метода вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС) для изучения элементного и фазового состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов.
Cite:
Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
ArticleLinkType.ORIGINAL_TO_TRANSLATED:
Ivanov V.P.
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Dates:
Submitted: | Oct 30, 2009 |
Identifiers:
RSCI | RSCI:16367951 |
Elibrary | 16367951 |
publication.block.citing_info:
Пока нет цитирований