Электронно-лучевое модифицирование поверхности оксидных материалов (SiO2, BaTiO3) Научная публикация
Журнал |
Журнал физической химии
ISSN: 0044-4537 |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2002, Том: 76, Номер: 1, Страницы: 84-89 Страниц : 6 | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Реферат:
Проанализировано изменение функционального состава поверхности (ПВ) оксидных материалов (аэросил-175, титанат бария) при их обработке ускоренными электронами. Установлен экстремальный характер зависимости содержания льюисовских и бренстедовских активных центров и их взаимных превращений от поглощенной дозы. Предположены возможные механизмы наблюдаемых изменений функционального состава ПВ, связанные со следующими последоват. структурными перестройками приповерхн. слоев по мере увеличения поглощенной дозы: расщепление на радикалы молекул физически сорбир. воды с последующим вовлечением в реакцию силоксановых групп и образованием гидроксилов при поглощенной дозе менее 100 кГр; дегидратация ПВ материала при большей поглощенной дозе. Показана возможность использования электронно-лучевой обработки для направленного и регулируемого модифицирования ПВ оксидных материалов
Библиографическая ссылка:
Васильева И.В.
, Мякин С.В.
, Рылова Е.В.
, Корсаков В.Г.
Электронно-лучевое модифицирование поверхности оксидных материалов (SiO2, BaTiO3)
Журнал физической химии. 2002. Т.76. №1. С.84-89. РИНЦ
Электронно-лучевое модифицирование поверхности оксидных материалов (SiO2, BaTiO3)
Журнал физической химии. 2002. Т.76. №1. С.84-89. РИНЦ
Переводная:
Vasil'eva I.V.
, Myakin S.V.
, Rylova E.V.
, Korsakov V.G.
Electron-Beam Modification of the Surface of Oxide Materials (SiO2 and BaTiO3)
Russian Journal of Physical Chemistry A. 2002. V.76. N1. P.71-76. WOS Scopus
Electron-Beam Modification of the Surface of Oxide Materials (SiO2 and BaTiO3)
Russian Journal of Physical Chemistry A. 2002. V.76. N1. P.71-76. WOS Scopus
Даты:
Поступила в редакцию: | 15 авг. 2000 г. |
Опубликована в печати: | 1 янв. 2002 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 44541330 |
Chemical Abstracts | 2002:439401 |
Chemical Abstracts (print) | 137:253443 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований