Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов Тезисы доклада
Конференция |
Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии : Всероссийская научная молодежная школа-конференция 14-22 мая 2012 , Омск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Труды Всероссийской научной молодежной школы-конференции (ChemSigma 2012) Сборник, ИК СО РАН. Новосибирск.2012. 440 c. |
||||
Вых. Данные | Год: 2012, Номер статьи : ПЛ-28, Страниц : 1 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Черепанова С.В.
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Труды Всероссийской научной молодежной школы-конференции (ChemSigma 2012). – ИК СО РАН., 2012. – C.56.
Моделирование рентгеновских дифракционных картин как метод исследования структуры нанокристаллических материалов
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Труды Всероссийской научной молодежной школы-конференции (ChemSigma 2012). – ИК СО РАН., 2012. – C.56.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований