Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм. Тезисы доклада
Конференция |
6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" 04-07 июн. 2013 , Екатеринбург |
||
---|---|---|---|
Сборник | 6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии" Сборник, 2013. |
||
Вых. Данные | Год: 2013, Страницы: 20 Страниц : 1 | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кочубей Д.И.
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
В сборнике 6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". 2013. – C.20.
Особенности метрологической аттестации измерений методом EXAFS наночастиц в области размеров 1-10 нм.
В сборнике 6-ая школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". 2013. – C.20.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований