Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Тезисы доклада
Конференция |
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Сборник | Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» Сборник, ИНХ СО РАН. Новосибирск.2013. 124 c. ISBN 9785901688281. РИНЦ |
||||||
Вых. Данные | Год: 2013, Страницы: 48 Страниц : 1 | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Информация о финансировании (2)
1 | Уральское отделение Российской академии наук | 12-П-2-1038 |
2 | Уральское отделение Российской академии наук | 12-С-2-1024 |
Библиографическая ссылка:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Бельтюков А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
В сборнике Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь». – ИНХ СО РАН., 2013. – C.48. – ISBN 9785901688281. РИНЦ
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
В сборнике Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь». – ИНХ СО РАН., 2013. – C.48. – ISBN 9785901688281. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 25278786 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований