XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. Тезисы доклада
Конференция |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013 , Казань |
||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Сборник | I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» Сборник, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ |
||||||||||
Вых. Данные | Год: 2013, Страницы: 50 Страниц : 1 | ||||||||||
Авторы |
|
||||||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
, Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Мухгалин В.В.
, Романов Э.А.
, Максимовский Е.А.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 21366506 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований