Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Тезисы доклада
Конференция |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013 , Казань |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» Сборник, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ |
||||
Вых. Данные | Год: 2013, Страницы: 49 Страниц : 1 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Зюзин Д.А.
, Нечепуренко С.Ф.
, Жерикова К.В.
, Доровских С.И.
, Морозова Н.Б.
, Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 21366505 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований