Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Тезисы доклада
Конференция |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014 , Новосибирск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов Сборник, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2014. 129 c. |
||||
Вых. Данные | Год: 2014, Страницы: 103 Страниц : 1 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Информация о финансировании (6)
1 | Российский фонд фундаментальных исследований | 14-03-01066 |
2 | Сибирское отделение Российской академии наук | 64 |
3 | Российский фонд фундаментальных исследований | 12-03-01039 (01201258422) |
4 | Российский фонд фундаментальных исследований | 12-03-01154 |
5 | Президиум РАН | 24 |
6 | Российский фонд фундаментальных исследований | 13-03-12193 (01201368704) |
Библиографическая ссылка:
Доровских С.И.
, Викулова Е.С.
, Жерикова К.В.
, Максимовский Е.А.
, Шубин Ю.В.
, Морозова Н.Б.
, Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
В сборнике XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.103.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
В сборнике XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.103.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований