XAFS – исследование ZnS-ZnSe полупроводниковых наноструктур Тезисы доклада
Конференция |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Сборник | XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов Сборник, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2014. 129 c. |
||||||
Вых. Данные | Год: 2014, Страницы: 107 Страниц : 1 | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Информация о финансировании (2)
1 | Уральское отделение Российской академии наук | 12-П-2-1038 |
2 | Уральское отделение Российской академии наук | 12-С-2-1024 |
Библиографическая ссылка:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
XAFS – исследование ZnS-ZnSe полупроводниковых наноструктур
В сборнике XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.107.
XAFS – исследование ZnS-ZnSe полупроводниковых наноструктур
В сборнике XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.107.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований