Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов Научная публикация
Журнал |
Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463 |
||
---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2010, Том: 51, Номер: 7, Страницы: S58-S63 Страниц : 6 | ||
Ключевые слова | высокодисперсные материалы, поверхность, вторичная ионная масс-спектрометрия, катализаторы | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Реферат:
В работе описаны фундаментальные и методологические аспекты применения метода вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС) для изучения элементного и фазового состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов.
Библиографическая ссылка:
Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
Переводная:
Ivanov V.P.
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 30 окт. 2009 г. |
Идентификаторы БД:
Russian Science Citation Index (RSCI) | RSCI:16367951 |
РИНЦ | 16367951 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований