Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials Научная публикация
Журнал |
Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779 |
||
---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2010, Том: 51, Номер: Supplement, Страницы: S53-S58 Страниц : 6 DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 | ||
Ключевые слова | fine materials, surface, secondary ion mass spectrometry, catalysts | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Реферат:
Fundamental and methodological aspects of secondary ion mass spectrometry applied to analysis of elemental/phase composition and structure of the surface layers of fine materials are discussed.
Библиографическая ссылка:
Ivanov V.P.
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Application of Secondary Ion Mass Spectrometry for Analyzing the Composition and Structure of Surface Layers of Fine Materials
Journal of Structural Chemistry. 2010. V.51. NSupplement. P.S53-S58. DOI: 10.1007/s10947-010-0189-6 РИНЦ
Оригинальная:
Иванов В.П.
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
Применение вторичной ионной масс-спектрометрии для анализа состава и структуры поверхностных слоев высокодисперсных материалов
Журнал структурной химии. 2010. Т.51. №7. С.S58-S63. RSCI РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 30 окт. 2009 г. |
Опубликована в печати: | 1 дек. 2010 г. |
Опубликована online: | 22 мая 2011 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 21108714 |
Chemical Abstracts | 2011:808472 |
Chemical Abstracts (print) | 155:81975 |
OpenAlex | W2087271990 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
OpenAlex | 1 |