Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Тип доклада | Устный | ||||||
Конференция |
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013 , Новосибирск |
||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Бельтюков А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013