Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Тип доклада | Стендовый | ||||
Url доклада | http://elibrary.ru/item.asp?id=21366505 | ||||
Конференция |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013 , Казань |
||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Зюзин Д.А.
, Нечепуренко С.Ф.
, Жерикова К.В.
, Доровских С.И.
, Морозова Н.Б.
, Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013