Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Тип доклада | Стендовый | ||||
Конференция |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014 , Новосибирск |
||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Доровских С.И.
, Викулова Е.С.
, Жерикова К.В.
, Максимовский Е.А.
, Шубин Ю.В.
, Морозова Н.Б.
, Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014