Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии Full article
Journal |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 2002, Number: 7, Pages: 44-48 Pages count : 5 | ||||||||
Authors |
|
||||||||
Affiliations |
|
Cite:
Титова С.Г.
, Шориков Д.О.
, Бринтце И.
, Балакирев В.Ф.
, Воронин В.И.
, Кочубей Д.И.
, Никитенко С.Г.
Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. №7. С.44-48. Scopus РИНЦ
Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. №7. С.44-48. Scopus РИНЦ
Dates:
Submitted: | Sep 24, 2001 |
Published print: | Jul 1, 2002 |
Identifiers:
Scopus | 2-s2.0-0036427703 |
Elibrary | 21058569 |
Chemical Abstracts | 2002:782819 |
Chemical Abstracts (print) | 138:47553 |
Citing:
Пока нет цитирований