EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия Conference Abstracts
Conference |
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 Jun 2012 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Source | XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012" Compilation, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2012. 131 c. |
||||||
Output data | Year: 2012, Pages: 113 Pages count : 1 | ||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Funding (3)
1 | Президиум РАН | 24 |
2 | Президиум РАН | 20 |
3 | Ural Branch of the Russian Academy of Sciences | 12-С-2-1024 |
Cite:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Деев А.Н.
, Кобзиев В.Ф.
, Мухгалин В.В.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
In compilation XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.113.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
In compilation XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.113.
Identifiers:
No identifiers
publication.block.citing_info:
Пока нет цитирований