Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Conference Abstracts
Conference |
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 Oct 2013 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Source | Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» Compilation, ИНХ СО РАН. Новосибирск.2013. 124 c. ISBN 9785901688281. РИНЦ |
||||||
Output data | Year: 2013, Pages: 48 Pages count : 1 | ||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Funding (2)
1 | Ural Branch of the Russian Academy of Sciences | 12-П-2-1038 |
2 | Ural Branch of the Russian Academy of Sciences | 12-С-2-1024 |
Cite:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Бельтюков А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
In compilation Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь». – ИНХ СО РАН., 2013. – C.48. – ISBN 9785901688281. РИНЦ
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
In compilation Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь». – ИНХ СО РАН., 2013. – C.48. – ISBN 9785901688281. РИНЦ
Identifiers:
Elibrary | 25278786 |
Citing:
Пока нет цитирований