XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. Conference Abstracts
Conference |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013 , Казань |
||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Source | I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» Compilation, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ |
||||||||||
Output data | Year: 2013, Pages: 50 Pages count : 1 | ||||||||||
Authors |
|
||||||||||
Affiliations |
|
Cite:
Кривенцов В.В.
, Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Мухгалин В.В.
, Романов Э.А.
, Максимовский Е.А.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
In compilation I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
In compilation I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.50. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Identifiers:
Elibrary | 21366506 |
Citing:
Пока нет цитирований