Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах Conference Abstracts
Conference |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 Jul 2014 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Source | XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов Compilation, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2014. 129 c. |
||||||
Output data | Year: 2014, Pages: 106 Pages count : 1 | ||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Funding (4)
1 | Ural Branch of the Russian Academy of Sciences | 12-П-2-1038 |
2 | Ural Branch of the Russian Academy of Sciences | 12-С-2-1024 |
3 | Russian Foundation for Basic Research | |
4 | Президиум РАН |
Cite:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
In compilation XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.106.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
In compilation XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014". 7 - 10 июля 2014 г. Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2014. – C.106.
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований