EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия Conference attendances
Language | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Participant type | Стендовый | ||||||
Conference |
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 Jun 2012 , Новосибирск |
||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Cite:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Деев А.Н.
, Кобзиев В.Ф.
, Мухгалин В.В.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 июн. 2012
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 июн. 2012