Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Conference attendances
Language | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Participant type | Устный | ||||||
Conference |
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 Oct 2013 , Новосибирск |
||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Cite:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Бельтюков А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 07-11 окт. 2013