Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al2O3 Conference attendances
Language | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Participant type | Стендовый | ||||||
Conference |
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 2-я Всероссийская научная конференция 21-25 Oct 2013 , Новосибирск |
||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Cite:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al2O3
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 2-я Всероссийская научная конференция 21-25 окт. 2013
Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al2O3
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 2-я Всероссийская научная конференция 21-25 окт. 2013