Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем Conference attendances
Language | Русский | ||||
---|---|---|---|---|---|
Participant type | Стендовый | ||||
Conference |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 Jul 2014 , Новосибирск |
||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Доровских С.И.
, Викулова Е.С.
, Жерикова К.В.
, Максимовский Е.А.
, Шубин Ю.В.
, Морозова Н.Б.
, Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014
Применение метода XAFS-спектроскопии для исследования особенностей структуры MOCVD наносистем
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014