Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах Conference attendances
Language | Русский | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Participant type | Стендовый | ||||||
Conference |
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 Jul 2014 , Новосибирск |
||||||
Authors |
|
||||||
Affiliations |
|
Cite:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 07-10 июл. 2014