21
|
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 2-я Всероссийская научная конференция
21-25 окт. 2013
|
22
|
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al2O3
Методы исследования состава и структуры функциональных материалов : 2-я Всероссийская научная конференция
21-25 окт. 2013
|
23
|
Кривенцов В.В.
, Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Мухгалин В.В.
, Романов Э.А.
, Максимовский Е.А.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Мезенцев Н.А.
Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013
|
24
|
Кривенцов В.В.
, Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Мухгалин В.В.
, Романов Э.А.
, Максимовский Е.А.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013
|