Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии Научная публикация
Журнал |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2002, Номер: 7, Страницы: 44-48 Страниц : 5 | ||||||||
Авторы |
|
||||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Титова С.Г.
, Шориков Д.О.
, Бринтце И.
, Балакирев В.Ф.
, Воронин В.И.
, Кочубей Д.И.
, Никитенко С.Г.
Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. №7. С.44-48. Scopus РИНЦ
Исследование искажения кристаллической структуры в высокотемпературном сверхпроводнике Hg0.8Tl0.2Ba2Ca2Cu3O8.10 методами рентгенографии, нейтронографии и EXAFS-спектроскопии
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. №7. С.44-48. Scopus РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 24 сент. 2001 г. |
Опубликована в печати: | 1 июл. 2002 г. |
Идентификаторы БД:
Scopus | 2-s2.0-0036427703 |
РИНЦ | 21058569 |
Chemical Abstracts | 2002:782819 |
Chemical Abstracts (print) | 138:47553 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований