Исследование «in situ» структуры ТАТБ дифракционными методами СИ
Научная публикация
| Общая информация |
Язык:
Русский,
Жанр:
Статья (Full article),
Статус опубликования:
Опубликована,
Оригинальность:
Оригинальная
|
| Журнал |
Научный вестник Новосибирского государственного технического университета
ISSN: 1814-1196
|
| Вых. Данные |
Год: 2013,
Номер: 4,
Страницы: 105-113
Страниц
: 9
|
| Авторы |
Тен К.А.
1
,
Прууэл Э.Р.
1
,
Лукьянчиков Л.А.
1
,
Толочко Б.П.
2
,
Шарафутдинов М.Р.
2
,
Шмаков А.Н.
3
,
Аминов Ю.А.
4
,
Музыря А.К.
4
,
Костицын О.В.
4
,
Смирнов Е.Б.
4
|
| Организации |
| 1 |
Институт гидродинамики им. М.А. Лаврентьева СО РАН
|
| 2 |
Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН
|
| 3 |
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
|
| 4 |
Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е.И. Забабахина
|
|
Информация о финансировании (3)
|
1
|
Российский фонд фундаментальных исследований
|
10-08-00859 (01201059531)
|
|
2
|
Российский фонд фундаментальных исследований
|
11-03-00874 (01201159534)
|
|
3
|
Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е.И. Забабахина
|
|
Дифракционные методики исследования образцов позволяют определять их внутренние параметры без нарушения целостности. В работе изложены результаты дифракционных исследований взрывчатых материалов на основе 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензола (ТАТБ) с использования синхротронного излучения от ускорительного комплекса ВЭПП-3 (энергия 2 ГэВ, Институт ядерной физики, Новосибирск). Приводятся результаты измерения мало-углового рентгеновского рассеяния синхротронного излучения (Е = 8,2 кэВ) при изменении температуры образцов от 27 до 240 °С для разных плотностей образцов. По этим данным получено внутреннее распределение неоднородностей в диапазоне 2 – 10 нм в зависимости от температуры и плотности. Изменение размеров кристаллической решетки ТАТБ проводилось путем измерения дифракционных рефлексов при изобарическом нагреве до 240 °С в диапазоне углов 4 – 60 град. Увеличение расстояния между слоями при нагреве составляет Δd = 0,01615 нм, при нормальном расстоянии d = 0,35404 нм. В алмазных наковальнях проведено изотермическое сжатие образцов до давлений 6.5 ГПа. Получено изменение расстояния между слоями кристаллической решетки ТАТБ Δd = 0,011 нм при изменении внешнего давления до 6,5 ГПа.