Исследование пленок ZnSXSe(1X) различного состава методом EXAFS-спектроскопии
Научная публикация
| Общее |
Язык:
Русский,
Жанр:
Статья (Full article),
Статус опубликования:
Опубликована,
Оригинальность:
Оригинальная
|
| Журнал |
Известия Российской академии наук. Серия физическая
ISSN: 0367-6765
|
| Вых. Данные |
Год: 2013,
Том: 77,
Номер: 9,
Страницы: 1299-1302
Страниц
: 4
DOI:
10.7868/S0367676513090056
|
| Авторы |
Бельтюков А.Н.
1,2
,
Валеев Р.Г.
1,2
,
Романов Э.А.
2
,
Кривенцов В.В.
3
|
| Организации |
| 1 |
Физико-технический институт УрО РАН
|
| 2 |
Удмуртский государственный университет
|
| 3 |
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
|
|
Информация о финансировании (6)
|
1
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
16.518.11.7019
|
|
2
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
02.740.11.0543
|
|
3
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
16.513.11.3043
|
|
4
|
Уральское отделение Российской академии наук
|
11 2 НП 411
|
|
5
|
Президиум РАН
|
12 С 2 1024
|
|
6
|
Уральское отделение Российской академии наук
|
12-П-2-1038
|
Методом термического распыления смеси порошков сульфида и селенида цинка в сверхвысоком вакууме получены пленки ZnSxSe(1x) различного состава (x = 0.36, 0.68, 0.73). Показано, что полученные пленки близки по химическому составу к исходным материалам. Методом рентгеновской дифракции исследована кристаллическая структура пленок. Методом EXAFS-спектроскопии исследовано локальное атомное окружение атомов селена и цинка.