Structural Study of Nickel-Containing thin MOCVD Films Prepared from New Type of Precursors by XAFS Тезисы доклада
Конференция |
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 июн. 2012 , Новосибирск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012" Сборник, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2012. 131 c. |
||||
Вых. Данные | Год: 2012, Страницы: 125 Страниц : 1 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Информация о финансировании (3)
1 | Российский фонд фундаментальных исследований | 12-03-01039 (01201258422) |
2 | Российский фонд фундаментальных исследований | 12-03-01154 |
3 | Президиум РАН | 24 |
Библиографическая ссылка:
Dorovskikh S.I.
, Morozova N.B.
, Yakimchuk E.P.
, Kriventsov V.V.
Structural Study of Nickel-Containing thin MOCVD Films Prepared from New Type of Precursors by XAFS
В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.125.
Structural Study of Nickel-Containing thin MOCVD Films Prepared from New Type of Precursors by XAFS
В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.125.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований