EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия Тезисы доклада
Конференция |
XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения 25-28 июн. 2012 , Новосибирск |
||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Сборник | XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012" Сборник, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2012. 131 c. |
||||||
Вых. Данные | Год: 2012, Страницы: 113 Страниц : 1 | ||||||
Авторы |
|
||||||
Организации |
|
Информация о финансировании (3)
1 | Президиум РАН | 24 |
2 | Президиум РАН | 20 |
3 | Уральское отделение Российской академии наук | 12-С-2-1024 |
Библиографическая ссылка:
Валеев Р.Г.
, Кривенцов В.В.
, Деев А.Н.
, Кобзиев В.Ф.
, Мухгалин В.В.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.113.
EXAFS-исследование локальной структуры нанонитей GaAs, стабилизированных в калиброванных порах оксида алюминия
В сборнике XIX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2012". – ИЯФ СО РАН., 2012. – C.113.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований