Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Тезисы доклада

Общее Язык: Русский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная
Конференция XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» (РЭСХС-21)
07-11 окт. 2013 , Новосибирск
Сборник Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь»
Сборник, ИНХ СО РАН. Новосибирск.2013. 124 c. ISBN 9785901688281. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2013, Страницы: 48 Страниц : 1
Авторы Валеев Р.Г. 1,2 , Кривенцов В.В. 3 , Бельтюков А.Н. 1 , Гильмутдинов Ф.З. 1
Организации
1 Физико-технический институт УрО РАН, 426000, ул.Кирова 132, Ижевск, Россия (rishatvaleev@mail.ru)
2 ГОУВПО Удмуртский государственный университет, Ижевск, Россия 3
3 Институт катализа им. К.Г. Борескова СО РАН, Новосибирск, Россия

Информация о финансировании (2)

1 Уральское отделение Российской академии наук 12-П-2-1038
2 Уральское отделение Российской академии наук 12-С-2-1024
Библиографическая ссылка: Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Бельтюков А.Н. , Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
В сборнике Программа и тезисы докладов XXI Всероссиийской конференции «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь». – ИНХ СО РАН., 2013. – C.48. – ISBN 9785901688281. РИНЦ
Идентификаторы:
РИНЦ 25278786