Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках | Sciact - CRIS-система Института катализа

Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Тезисы доклада

Общее

Язык: Русский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная

Конференция

I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Казань

Сборник

I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
Сборник, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ

Вых. Данные

Год: 2013, Страницы: 49 Страниц : 1

Авторы

Кривенцов В.В.

¹ , Якимчук Е.П.

¹ , Новгородов Б.Н.

¹ , Зюзин Д.А.

¹ , Нечепуренко С.Ф. ¹ , Жерикова К.В.

² , Доровских С.И. ² , Морозова Н.Б.

² , Смирнова Т.П.

Организации

1	Институт катализа СО РАН (Новосибирск)
2	Институт неорганической химии СО РАН (Новосибирск)

Кривенцов В.В. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Зюзин Д.А. , Нечепуренко С.Ф. , Жерикова К.В. , Доровских С.И. , Морозова Н.Б. , Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ

РИНЦ

21366505