Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Тезисы доклада

Общее Язык: Русский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная
Конференция I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Казань
Сборник I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
Сборник, Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич. Казань.2013. 146 c. ISBN 9785906217219. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2013, Страницы: 49 Страниц : 1
Авторы Кривенцов В.В. 1 , Якимчук Е.П. 1 , Новгородов Б.Н. 1 , Зюзин Д.А. 1 , Нечепуренко С.Ф. 1 , Жерикова К.В. 2 , Доровских С.И. 2 , Морозова Н.Б. 2 , Смирнова Т.П. 2
Организации
1 Институт катализа СО РАН (Новосибирск)
2 Институт неорганической химии СО РАН (Новосибирск)
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Зюзин Д.А. , Нечепуренко С.Ф. , Жерикова К.В. , Доровских С.И. , Морозова Н.Б. , Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
В сборнике I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа». – Индивидуальный предприниматель Синяев Дмитрий Николаевич., 2013. – C.49. – ISBN 9785906217219. РИНЦ
Идентификаторы:
РИНЦ 21366505
Ссылки:
  • РИНЦ - Список публикаций, цитирующих данную