Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах Тезисы доклада
Конференция |
Химия под знаком СИГМА: Исследования, Инновации, Технологии : IV Всероссийская научная молодежная школа‐конференция 12-18 мая 2014 , Омск |
||||
---|---|---|---|---|---|
Сборник | Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции Сборник, ИППУ СО РАН. Омск.2014. 380 c. ISBN 9785906376053. РИНЦ |
||||
Вых. Данные | Год: 2014, Номер статьи : ПЛ -8, Страниц : 2 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Черепанова С.В.
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции. – ИППУ СО РАН., 2014. – C.21-22. – ISBN 9785906376053.
Структурный и микроструктурный анализ ультрадисперсных и частично разупорядоченных материалов с применением моделирования рентгеновской дифракции на дефектных кристаллах
В сборнике Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии. Тезисы докладов IV Всероссийской научной молодежной школы-конференции. – ИППУ СО РАН., 2014. – C.21-22. – ISBN 9785906376053.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований