XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials | Sciact - CRIS-система Института катализа

XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials Тезисы доклада

Общее

Язык: Английский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная

Конференция

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 окт. 2014 , Казань

Сборник

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
Сборник, 2014. 103 c. ISBN 9785906217660. РИНЦ

Вых. Данные

Год: 2014, Страницы: 95 Страниц : 1

Авторы

Kriventsov V.V.

¹ , Valeev R.G.

¹ , Belʹtyukov A.N.

² , Yakimchuk E.P.

¹ , Novgorodov B.N.

¹ , Maksimovskij E.A.

¹ , Khorev A.G. ¹ , Mezentsev N.A. ³

Организации

1	Boreskov Institute of Catalysis of SB RAS (Novosibirsk)
2	Physical-Technical Institute of UB RAS (Izhevsk)
3	Budker Institute of Nuclear Physics of SB RAS (Novosibirsk)

Kriventsov V.V. , Valeev R.G. , Belʹtyukov A.N. , Yakimchuk E.P. , Novgorodov B.N. , Maksimovskij E.A. , Khorev A.G. , Mezentsev N.A.
XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials
В сборнике II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов». 2014. – C.95. – ISBN 9785906217660. РИНЦ

РИНЦ

23479051