Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом Тезисы доклада

Общее Язык: Русский, Жанр: Тезисы доклада (Meeting Abstracts),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная
Конференция II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 окт. 2014 , Казань
Сборник II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
Сборник, 2014. 103 c. ISBN 9785906217660. РИНЦ
Вых. Данные Год: 2014, Страницы: 41 Страниц : 1
Авторы Кривенцов В.В. 1 , Валеев Р.Г. 2 , Бельтюков А.Н. 2 , Якимчук Е.П. 1 , Хорев А.Г. 1 , Нечепуренко С.Ф. 1 , Максимовский Е.А. 1 , Морозова Н.Б. 1 , Новгородов Б.Н. 1 , Мезенцев Н.А. 3
Организации
1 Институт катализа СО РАН (Новосибирск
2 Физико-технический инстиут Уро РАН (Ижевск)
3 Институт ядерной физики СО РАН
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Якимчук Е.П. , Хорев А.Г. , Нечепуренко С.Ф. , Максимовский Е.А. , Морозова Н.Б. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А.
Применение EXAFS для определения фазового состава полупроводниковых наносистем, приготовленных TVD методом
В сборнике II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов». 2014. – C.41. – ISBN 9785906217660. РИНЦ
Идентификаторы:
РИНЦ 23479007