Применение метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов Тезисы доклада
Конференция |
Школа по подготовке молодых специалистов «Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов» 15-20 сент. 2015 , Новосибирск |
||
---|---|---|---|
Сборник | Школа по подготовке молодых специалистов "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов". Книга тезисов Сборник, ИЯФ СО РАН. Новосибирск.2015. 50 c. |
||
Вых. Данные | Год: 2015, Страницы: 33 Страниц : 1 | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Информация о финансировании (5)
1 | Российский фонд фундаментальных исследований | 14-03-01066 |
2 | Президиум РАН | 24 |
3 | Российский фонд фундаментальных исследований | 13-03-12193 (01201368704) |
4 | Российский фонд фундаментальных исследований | 15-33-50477 |
5 | Российский фонд фундаментальных исследований | 15-33-50478 |
Реферат:
Метод XAFS спектроскопии, в различных методических вариантах, реализованных с использованием синхротронного излучения, является общепризнанным мощным инструментом исследования состояния элементов и локальной структуры для разнообразных систем в практически любых агрегатных состояниях: сплавов, дисперсных систем, растворов, стекол, ультраразбавленных систем и др. Следует отметить, что метод XAFS спектроскопии наиболее эффективен при изучении наноразмерных систем “сложного” состава, с характерным размером менее 100 нм и низким содержанием по исследуемому элементу, когда применение других структурных методов заведомо проблематично и мало информативно. В представленном докладе рассмотрены физические основы метода XAFS спектроскопии, методические и аппаратурные особенности, методы предобработки экспериментальных данных и анализа структурной информации. На примере широкого круга различных наноразмерных систем продемонстрированы возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования - ПЭМВР, СЭМ, РФЭС, РФА СИ и др. Показана перспективность использованного комплексного подхода для исследования разбавленных наноструктурированных систем, капсулированных упорядоченных полупроводниковых наноструктур, нанокомпозитных катализаторов сложного состава, биологических наноматериалов.
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
Применение метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов
В сборнике Школа по подготовке молодых специалистов "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов". Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2015. – C.33.
Применение метода XAFS спектроскопии для исследования функциональных наноматериалов
В сборнике Школа по подготовке молодых специалистов "Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов". Книга тезисов. – ИЯФ СО РАН., 2015. – C.33.
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований