Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах Научная публикация
Конференция |
2 Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов 23-27 мая 1999 , Москва |
||||
---|---|---|---|---|---|
Журнал |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||
Вых. Данные | Год: 2000, Номер: 9, Страницы: 64-68 Страниц : 5 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Василенко А.П.
, Колесников А.В.
, Никитенко С.Г.
, Ревенко М.А.
, Соколов Л.В.
, Федоров А.А.
, Труханов Е.М.
Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. №9. С.64-68. РИНЦ
Исследование искажений кристаллической решетки в эпитаксиальных наноструктурах
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000. №9. С.64-68. РИНЦ
Переводная:
Vasilenko A.P.
, Kolesnikov A.V.
, Nikitenko S.G.
, Revenko M.A.
, Sokolov L.V.
, Fedorov A.A.
, Trukhanov E.M.
Distortions of the Crystal Lattice in Epitaxial Nanostructures
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2001. V.16. N9. P.1455-1462. Scopus РИНЦ
Distortions of the Crystal Lattice in Epitaxial Nanostructures
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2001. V.16. N9. P.1455-1462. Scopus РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 12 окт. 1999 г. |
Опубликована в печати: | 1 сент. 2000 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 47561980 |
Chemical Abstracts | 2000:854712 |
Chemical Abstracts (print) | 134:139761 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований