Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы Научная публикация
Журнал |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 1994, Номер: 5, Страницы: 50-57 Страниц : 8 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Гельфонд Н.В.
, Зайковский В.И.
, Игуменов И.К.
Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1994. №5. С.50-57. РИНЦ
Электронно-микроскопическое исследование структуры тонких иридиевых пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1994. №5. С.50-57. РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 5 мая 1993 г. |
Принята к публикации: | 22 июн. 1993 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 41113148 |
Chemical Abstracts | 1994:618021 |
Chemical Abstracts (print) | 121:218021 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
РИНЦ | 8 |