Synchrotron Diffraction with Variable Wave Length for Investigations of Semiconductor Heterosystems Тезисы доклада
Конференция |
18th Congress and General Assembly of the International Union of Crystallography 04-13 авг. 1999 , Glasgow, Scotland |
||||
---|---|---|---|---|---|
Журнал |
Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances (предыдущее название Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography)
ISSN: 2053-2733 |
||||
Вых. Данные | Год: 1999, Том: 55, Номер статьи : P12.01.010, Страниц : 1 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Amirzhanov R.M.
, Kolesnikov A.V.
, Revenko M.A.
, Trukhanov E.M.
, Nikitenko S.G.
Synchrotron Diffraction with Variable Wave Length for Investigations of Semiconductor Heterosystems
Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances (предыдущее название Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography). 1999. V.55. P12.01.010 :1-1. WOS РИНЦ
Synchrotron Diffraction with Variable Wave Length for Investigations of Semiconductor Heterosystems
Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances (предыдущее название Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography). 1999. V.55. P12.01.010 :1-1. WOS РИНЦ
Идентификаторы БД:
Web of science | WOS:000475706302096 |
РИНЦ | 47691471 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований