Characterizing ZnS x Se(1 − x) Films of Various Compositions via EXAFS Spectroscopy
Научная публикация
| Общее |
Язык:
Английский,
Жанр:
Статья (Full article),
Статус опубликования:
Опубликована,
Оригинальность:
Переводная
|
| Журнал |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
ISSN: 1062-8738
, E-ISSN: 1934-9432
|
| Вых. Данные |
Год: 2013,
Том: 77,
Номер: 9,
Страницы: 1137-1140
Страниц
: 4
DOI:
10.3103/S1062873813090050
|
| Авторы |
Beltyukov A.N.
1,2
,
Valeev R.G.
1,2
,
Romanov E.A.
2
,
Kriventsov V.V.
3
|
| Организации |
| 1 |
Физико-технический институт УрО РАН
|
| 2 |
Удмуртский государственный университет
|
| 3 |
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
|
|
Информация о финансировании (6)
|
1
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
16.518.11.7019
|
|
2
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
02.740.11.0543
|
|
3
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
16.513.11.3043
|
|
4
|
Уральское отделение Российской академии наук
|
11 2 НП 411
|
|
5
|
Президиум РАН
|
12 С 2 1024
|
|
6
|
Уральское отделение Российской академии наук
|
12-П-2-1038
|
ZnS x Se(1 − x) (x = 0.36, 0.68, and 0.73) films of various compositions are prepared by the thermal deposition of a mixture of zinc sulfide and zinc selenide powders in ultrahigh vacuum. It is shown that the produced films and the source materials are close in chemical composition. The crystal structure of the films is studied via X-ray diffraction. The local atomic environment of selenium and zinc atoms is studied by means of EXAFS spectroscopy.