Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии
Научная публикация
Общее |
Язык:
Русский,
Жанр:
Статья (Full article),
Статус опубликования:
Опубликована,
Оригинальность:
Оригинальная
|
Журнал |
Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463
|
Вых. Данные |
Год: 2011,
Том: 52,
Номер: 7,
Страницы: S184-S188
Страниц
: 5
|
Авторы |
Валеев Р.Г.
1,2
,
Бельтюков А.Н.
1,2
,
Гильмутдинов Ф.З.
1
,
Романов Э.А.
2
,
Деев А.Н.
1
,
Кривенцов В.В.
3
,
Мезенцев Н.А.
4
,
Чукавин А.И.
1,2
|
Организации |
1 |
Физико-технический институт УрО РАН
|
2 |
Удмуртский государственный университет
|
3 |
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
|
4 |
Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН
|
|
Информация о финансировании (6)
1
|
Президиум РАН
|
21
|
2
|
Президиум РАН
|
27
|
3
|
Президиум РАН
|
09-P-2-1026
|
4
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
02.740.11.0543
|
5
|
Совет по грантам Президента Российской Федерации
|
МК-02.120.11.369
|
6
|
Российский фонд фундаментальных исследований
|
11-03-01264
|
В работе представлены результаты исследования атомной структуры пленок сульфида цинка, полученных методом термического испарения в сверхвысоком вакууме при температурах конденсации –100, –50 и 0°C. Для аттестации структурного состояния применялись такие методы, как рентгеновская дифракция, атомная силовая микроскопия. Для исследования локального атомного окружения и извлечения структурной информации (межатомные расстояния, координационные числа) методом EXAFS спектроскопии на K-крае цинка использован метод Фурье-преобразования.