Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии Научная публикация

Общее Язык: Русский, Жанр: Статья (Full article),
Статус опубликования: Опубликована, Оригинальность: Оригинальная
Журнал Журнал структурной химии
ISSN: 0136-7463
Вых. Данные Год: 2011, Том: 52, Номер: 7, Страницы: S184-S188 Страниц : 5
Авторы Валеев Р.Г. 1,2 , Бельтюков А.Н. 1,2 , Гильмутдинов Ф.З. 1 , Романов Э.А. 2 , Деев А.Н. 1 , Кривенцов В.В. 3 , Мезенцев Н.А. 4 , Чукавин А.И. 1,2
Организации
1 Физико-технический институт УрО РАН
2 Удмуртский государственный университет
3 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
4 Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН

Информация о финансировании (6)

1 Президиум РАН 21
2 Президиум РАН 27
3 Президиум РАН 09-P-2-1026
4 Министерство образования и науки Российской Федерации 02.740.11.0543
5 Совет по грантам Президента Российской Федерации МК-02.120.11.369
6 Российский фонд фундаментальных исследований 11-03-01264

Реферат: В работе представлены результаты исследования атомной структуры пленок сульфида цинка, полученных методом термического испарения в сверхвысоком вакууме при температурах конденсации –100, –50 и 0°C. Для аттестации структурного состояния применялись такие методы, как рентгеновская дифракция, атомная силовая микроскопия. Для исследования локального атомного окружения и извлечения структурной информации (межатомные расстояния, координационные числа) методом EXAFS спектроскопии на K-крае цинка использован метод Фурье-преобразования.
Библиографическая ссылка: Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Гильмутдинов Ф.З. , Романов Э.А. , Деев А.Н. , Кривенцов В.В. , Мезенцев Н.А. , Чукавин А.И.
Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии
Журнал структурной химии. 2011. Т.52. №7. С.S184-S188. RSCI РИНЦ
Переводная версия: Valeev R.G. , Beltyukov A.N. , Gilmutdinov F.Z. , Romanov E.A. , Deev A.N. , Kriventsov V.V. , Mezentsev N.A. , Chukavin A.I.
EXAFS Spectroscopy Study of the Atomic Structure of ZnS Nanocomposite Thin Films
Journal of Structural Chemistry. 2011. V.52. NSupplement. P.S181-S185. DOI: 10.1134/S0022476611070249 РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: 15 окт. 2010 г.
Принята к публикации: 11 апр. 2011 г.
Идентификаторы:
Russian Science Citation Index (RSCI) RSCI:21512211
РИНЦ 21512211