EXAFS Spectroscopy Study of the Atomic Structure of ZnS Nanocomposite Thin Films Научная публикация
Журнал |
Journal of Structural Chemistry
ISSN: 0022-4766 , E-ISSN: 1573-8779 |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2011, Том: 52, Номер: Supplement, Страницы: S181-S185 Страниц : 5 DOI: 10.1134/S0022476611070249 | ||||||||
Ключевые слова | ZnS, local atomic structure, EXAFS spectroscopy, X-ray diffraction, atomic force microscopy, Fourier transform, semiconductors, nanomaterials. | ||||||||
Авторы |
|
||||||||
Организации |
|
Информация о финансировании (6)
1 | Президиум РАН | 21 |
2 | Президиум РАН | 27 |
3 | Президиум РАН | 09-P-2-1026 |
4 | Министерство образования и науки Российской Федерации | 02.740.11.0543 |
5 | Совет по грантам Президента Российской Федерации | МК-02.120.11.369 |
6 | Российский фонд фундаментальных исследований | 11-03-01264 |
Реферат:
The atomic structure of zinc sulfide films obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum at condensation temperatures of −100°C, −50°C, and 0°C was investigated. Structural states were assessed by means of X-ray diffraction and atomic force microscopy. Fourier transform was used to study the local atomic environment and acquire the structural information (interatomic distances and coordination numbers) by zinc K edge EXAFS spectroscopy.
Библиографическая ссылка:
Valeev R.G.
, Beltyukov A.N.
, Gilmutdinov F.Z.
, Romanov E.A.
, Deev A.N.
, Kriventsov V.V.
, Mezentsev N.A.
, Chukavin A.I.
EXAFS Spectroscopy Study of the Atomic Structure of ZnS Nanocomposite Thin Films
Journal of Structural Chemistry. 2011. V.52. NSupplement. P.S181-S185. DOI: 10.1134/S0022476611070249 РИНЦ
EXAFS Spectroscopy Study of the Atomic Structure of ZnS Nanocomposite Thin Films
Journal of Structural Chemistry. 2011. V.52. NSupplement. P.S181-S185. DOI: 10.1134/S0022476611070249 РИНЦ
Оригинальная версия:
Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Гильмутдинов Ф.З.
, Романов Э.А.
, Деев А.Н.
, Кривенцов В.В.
, Мезенцев Н.А.
, Чукавин А.И.
Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии
Журнал структурной химии. 2011. Т.52. №7. С.S184-S188. RSCI РИНЦ
Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии
Журнал структурной химии. 2011. Т.52. №7. С.S184-S188. RSCI РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 15 окт. 2010 г. |
Опубликована в печати: | 1 дек. 2011 г. |
Опубликована online: | 28 янв. 2012 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 29797013 |
Chemical Abstracts | 2012:137144 |
Chemical Abstracts (print) | 157:499160 |
OpenAlex | W2075015629 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
OpenAlex | 4 |