Эффекты пространственного упорядочения массивов квантовых точек по данным малоугловой рентгеновской дифрактометрии при вариации параметров роста Научная публикация
Журнал |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN: 1028-0960 , E-ISSN: 0207-3528 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2011, Номер: 2, Страницы: 21-26 Страниц : 6 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Информация о финансировании (1)
1 | Сибирское отделение Российской академии наук | 23 |
Реферат:
Метод малоугловой рентгеновской дифрактометрии был применен к системе квантовых точек германия в кремниевой матрице, выращенных с помощью молекулярно-лучевой эпитаксии в режиме самоорганизации по методу СтранскогоКрастанова. В зависимости от режимов роста были определены характерные расстояния между квантовыми точками Ge, а также отклонения от их коррелированного распределения. Результаты согласуются с данными cканирующей туннельной микроскопии.
Библиографическая ссылка:
Плясова Л.М.
, Молина И.Ю.
, Степина Н.П.
, Зиновьева А.Ф.
, Двуреченский А.В.
Эффекты пространственного упорядочения массивов квантовых точек по данным малоугловой рентгеновской дифрактометрии при вариации параметров роста
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. №2. С.21-26. РИНЦ
Эффекты пространственного упорядочения массивов квантовых точек по данным малоугловой рентгеновской дифрактометрии при вариации параметров роста
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. №2. С.21-26. РИНЦ
Переводная:
Plyasova L.M.
, Molina I.Y.
, Stepina N.P.
, Zinovʹeva A.F.
, Dvurechenskii A.V.
Effects of Spatial Ordering of Quantum Dot Arrays from Small-Angle X-Ray Diffraction Data under Variation of Growth Parameters
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2011. V.5. N1. P.120-125. DOI: 10.1134/S1027451011020157 WOS Scopus РИНЦ
Effects of Spatial Ordering of Quantum Dot Arrays from Small-Angle X-Ray Diffraction Data under Variation of Growth Parameters
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2011. V.5. N1. P.120-125. DOI: 10.1134/S1027451011020157 WOS Scopus РИНЦ
Даты:
Поступила в редакцию: | 23 мар. 2010 г. |
Идентификаторы БД:
РИНЦ | 15599493 |
Цитирование в БД:
БД | Цитирований |
---|---|
РИНЦ | 3 |