Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Устный

Конференция

XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» (РЭСХС-21)
07-11 окт. 2013 , Российская конференция, Новосибирск

Авторы

Валеев Ришат Галеевич

^1,2 , Кривенцов Владимир Владимирович

³ , Бельтюков Артемий Николаевич

¹ , Гильмутдинов Фаат Залалутдинович ¹

Организации

1	Физико-технический институт УрО РАН
2	Удмуртский государственный университет
3	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН

Валеев Р.Г. , Кривенцов В.В. , Бельтюков А.Н. , Гильмутдинов Ф.З.
Применение методов рентгеновской и электронной спектроскопии для исследования наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
XXI Всероссийская конференция «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» (РЭСХС-21) 07-11 Oct 2013