XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Тип доклада | Стендовый | ||||||||||
Url доклада | http://elibrary.ru/item.asp?id=21366506 | ||||||||||
Конференция |
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013 , Казань |
||||||||||
Авторы |
|
||||||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
, Валеев Р.Г.
, Бельтюков А.Н.
, Мухгалин В.В.
, Романов Э.А.
, Максимовский Е.А.
, Якимчук Е.П.
, Новгородов Б.Н.
, Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 сент. 2013