Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата. Доклады на конференциях

Язык Русский
Тип доклада Стендовый
Url доклада http://elibrary.ru/item.asp?id=21366506
Конференция I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Российская конференция, Казань
Авторы Кривенцов Владимир Владимирович 1 , Валеев Ришат Галеевич 2,3 , Бельтюков Артемий Николаевич 2,3 , Мухгалин Владислав Викторович 2 , Романов Эдуард Андреевич 2 , Максимовский Евгений Анатольевич 4 , Якимчук Евгений Петрович 1 , Новгородов Борис Николаевич 1 , Мезенцев Николай Александрович 5
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Физико-технический институт УрО РАН
3 Удмуртский государственный университет
4 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
5 Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мухгалин В.В. , Романов Э.А. , Максимовский Е.А. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Мезенцев Н.А.
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата.
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013