Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Доклады на конференциях

Язык Русский
Тип доклада Стендовый
Url доклада http://elibrary.ru/item.asp?id=21366505
Конференция I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Российская конференция, Казань
Авторы Кривенцов Владимир Владимирович 1 , Якимчук Евгений Петрович 1 , Новгородов Борис Николаевич 1 , Зюзин Дмитрий Альбертович 1 , Нечепуренко Сергей Федорович 1 , Жерикова Ксения Васильевна 2 , Доровских Светлана Игоревна 2 , Морозова Наталья Борисовна 2 , Смирнова Тамара Павловна 2
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Зюзин Д.А. , Нечепуренко С.Ф. , Жерикова К.В. , Доровских С.И. , Морозова Н.Б. , Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013