Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа - публикации, сотрудники

Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках Доклады на конференциях

Язык

Русский

Тип доклада

Стендовый

Url доклада

http://elibrary.ru/item.asp?id=21366505

Конференция

I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа»
26-26 сент. 2013 , Российская конференция, Казань

Авторы

Кривенцов Владимир Владимирович

¹ , Якимчук Евгений Петрович

¹ , Новгородов Борис Николаевич

¹ , Зюзин Дмитрий Альбертович

¹ , Нечепуренко Сергей Федорович ¹ , Жерикова Ксения Васильевна

² , Доровских Светлана Игоревна

² , Морозова Наталья Борисовна

² , Смирнова Тамара Павловна

²

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН

Кривенцов В.В. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Зюзин Д.А. , Нечепуренко С.Ф. , Жерикова К.В. , Доровских С.И. , Морозова Н.Б. , Смирнова Т.П.
Применение метода XAFS спектроскопии для изучения состояния металлов в наноструктурированных MOCVD пленках
I Всероссийская научная Интернет - конференция с международным участием «Спектрометрические методы анализа» 26-26 Sep 2013