Sciact
Toggle navigation
  • EN
  • RU

Разделы:

  • Статьи
  • Книги
  • Доклады на конференциях
  • Тезисы докладов
  • Патенты

Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах. Доклады на конференциях

Язык Русский
Тип доклада Стендовый
Конференция XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014"
07-10 июл. 2014 , Российская конференция, Новосибирск
Авторы Кривенцов Владимир Владимирович , Валеев Ришат Галеевич , Бельтюков Артемий Николаевич , Мезенцев Николай Александрович
Организации
1 Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2 Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН
3 Физико-технический институт УрО РАН
Библиографическая ссылка: Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Мезенцев Н.А.
Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах.
XX Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014" 07-10 Jul 2014