XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials - Доклады на конференциях | Sciact - CRIS-система Института катализа

XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials Доклады на конференциях

Язык

Английский

Тип доклада

Стендовый

Конференция

II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов»
28-28 окт. 2014 , Российская конференция, Казань

Авторы

Кривенцов Владимир Владимирович

¹ , Валеев Ришат Галеевич

¹ , Бельтюков Артемий Николаевич

² , Якимчук Евгений Петрович

¹ , Новгородов Борис Николаевич

¹ , Максимовский Евгений Анатольевич

¹ , Хорев А. Г. ¹ , Мезенцев Николай Александрович ³

Организации

1	Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
2	Физико-технический институт УрО РАН
3	Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера СО РАН

Кривенцов В.В. , Валеев Р.Г. , Бельтюков А.Н. , Якимчук Е.П. , Новгородов Б.Н. , Максимовский Е.А. , Хорев А.Г. , Мезенцев Н.А.
XAFS study of local atomic arrangement and character of chemical bonds of nanosized ZnSe and ZnS semiconductor materials
II Всероссийская научная Интернет-конференция с международным участием «Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов» 28-28 Oct 2014