Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ Доклады на конференциях
Язык | Русский | ||
---|---|---|---|
Тип доклада | Устный | ||
Конференция |
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 окт. 2019 , Воронеж |
||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Реферат:
В заявленной работе, на примере исследований, проведенных на станции EXAFS спектроскопии (СЦТСИ, Новосибирск), рассмотрены аппаратурные и методические особенности. Для широкого ряда наноразмерных систем показаны возможности XAFS спектроскопии, как самостоятельного метода, так и в комплексе с другими физическими методами исследования.
Библиографическая ссылка:
Кривенцов В.В.
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 окт. 2019
Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии СЦСТИ
XXIII Всероссийская конференция (с международным участием) «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» 01-04 окт. 2019